به گزارش مشرق، شرکت بروکر اعلام کرد سیستم نانومترولوژی جدید خود موسوم به FastScan Pro راکه مربوط به دستگاه AFM این شرکت است، به بازار عرضه کرده است؛ این ابزار پیش از این تنها توسط محققان متخصص این حوزه در آزمایشگاه‌های تحقیقاتی بکارگرفته می‌شد.

نتایج به دست آمده از این سیستم تکرارپذیری بالایی دارد و می‌تواند با سرعت بالا و با کمترین نویز اطلاعات را ارائه کند. این سیستم نانومترولوژی به یک نرم‌افزار جامع خودکار نیز مجهز است که می‌تواند فرآیند تصویربرداری را تسهیل کند. این فناوری کاربر را قادر می‌سازد تا با استفاده از نگهدارنده (هولدر) بزرگ امکان بررسی سریع سطح وسیعی از نمونه را داشته باشد.

مارکو تورتونیز از مدیران شرکت بروکر می‌گوید: این سیستم یک ابزار با امکان کار سریع روی یک سطح وسیع است و با استفاده از این فناوری می‌توان فرآیند تصویربرداری را 10 برابر سریعتر انجام داد؛ همچنین این فناوری کاربر را قادر می‌سازد تا بیش از 500 تصویر را از یک پیمایشگر به دست آورد.

این فناوری دقت تصویربرداری در نواحی عمیق را افزایش داده است و می‌تواند تصاویر بهتری در مقیاس نانومتری به دست آورد؛ این دستاورد برای بخش کنترل کیفی شرکت‌های تولیدکننده نانومحصول بسیار جالب توجه است. نرم‌افزار مورد استفاده در این سیستم نیز کیفیت کار را به میزان قابل توجهی افزایش می‌دهد؛ این فناوری برای استفاده در مترولوژی نیز بسیار مناسب است.